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  贵金属分析仪 X-3600(元素分析范围:铝(Al)—铀(U),含量分析范围:1PPM——99.999%)
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X-3600是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方, 正是它大有作为之处。

仪器检测能力强,分辨率高,适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al13号元素)到U92号元素)。无损分析迅速,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。

技术参数:

外型尺寸:600mm×530mm×330mm

可测试样品大小:关仓测量:220mm×200mm×150mm

开仓测量:无限大

仪器重量:50公斤

工作环境温度:0——35℃

工作环境相对湿度:≤80%

元素分析范围:铝(Al——铀(U

含量分析范围:1PPM——99.999%

测量时间:10——180秒可调

激发源:低功率X射线管

高压电源:美国Spellman原装进口高压电源

探测器:美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器

仪器分辨率:55Fe的能量为5.9KevMnKα线,分辨率优于149eV

多道分析器:2048

软件:基于WINDOWS的强大工作软件

客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法

工作电源:交流 220V 50Hz

主要特点:

基本参数法对从铝(13号元素)至铀(92号元素)定性分析测量。

包裹样品检测辨别系统。

样品室高清成像定位系统,方便微小样品定位测量。

电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合,维持内部工作环境稳定。

内部动力学风道设计,快速排出多余热量。

双峰位快速自动校准。

双箱体结构,抗干扰能力强且方便硬件升级。

仪器工作方法任意开发。

定量分析:包括经验系数法,理论a系数法和基本参数法。

定性分析:包括Kl谱线标记法,谱图比较法,光标自动寻峰等。

测试报表根据客户要求独立设计。

 X-3600(元素分析范围:铝(Al)—铀(U),含量分析范围:1PPM——99.999%)
产地China
 欢迎您来电咨询:021-65730171
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